Hallo! Ich wollte auch noch mal kurz einige Infos zur Prüfung dalassen.
Abgefragt wurden: Schatten, Schlieren, Interferometrie, LDA, Wandschubspannungs-Messverfahren (für die rückläufige Stufe -> richtungsempfindliche Verfahren, welche müssen kalibriert werden?). Wie schon bei anderen Protokollen, kann ich nur betonen, dass die Atmospähre sehr entspannt war und dass viel wert auf Verständnis der Methoden und auch ein bisschen Transfer gelegt wird. So sollte ich z.B. Schattenbild aus einem Projekt nach Messverfahren klassifizieren (dachte fälschlicherweise zuerst es wäre Schlieren-dabei müsste jedoch auf der eine Seite des Bildes die "Reihenfolge" schwarz-weiß an der Druckfront anders herum sein, wie auf der anderen Seite). Es wurde auch gefragt wodurch die Modulationstiefe beim LDA abgeschwächt werden kann (Partikelgröße, Polarisationsfehler).Außerdem wurde das Bild vom Mach-Zehder-Interferometer gezeigt und ich sollte angeben wie man auf die Temperatur kommen kann .. der Streifenabstand hängt mit der Temperatur zusammen und man kann von außen abzählen.
Leider sind die Felder auf die ich mich besonders vorbereitet hatte PIV und RMV gar nicht dran gekommen.
Alles in allem eine faire Bewertung und ein sehr interessantes Fach!